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  壁厚測量儀MiniTest FH7400（霍爾效應(yīng)）

  壁厚測量儀MiniTest FH7400（霍爾效應(yīng)） MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH由易懂的菜單控制操作，并進行數(shù)據(jù)歸檔，和普通電腦的應(yīng)用程序類似。全程提供操作幫助，有上下文關(guān)聯(lián)的幫助標(biāo)題。

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  德國Elektrophysik測厚儀 MiniTest FH7400

  德國Elektrophysik測厚儀 MiniTest FH7400 專業(yè)的，的壁厚測量設(shè)備，用于24毫米的無損測量。該裝置適用于非磁性材料如玻璃、合成材料、不銹鋼和復(fù)合材料的厚度測量，甚至可以測量復(fù)雜的幾何形狀。

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  現(xiàn)貨銷售FH7400霍爾效應(yīng)瓶壁測厚儀

  現(xiàn)貨銷售FH7400霍爾效應(yīng)瓶壁測厚儀 MiniTest 7400 FH 可在各種非磁性材料上進行簡單，無損，高精度的厚度測量，無論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角，小半徑和復(fù)雜形狀工件理想的測量工具。

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  霍爾效應(yīng)瓶壁測厚儀FH7400測厚儀資料

  霍爾效應(yīng)瓶壁測厚儀FH7400測厚儀資料 專業(yè)的，壁厚測厚儀為高達24 mm的非破壞性測量。該裝置適合于非磁材料，如玻璃，合成材料，不銹鋼和復(fù)合材料，甚至復(fù)雜元件幾何尺寸的厚度測量可以被測量。 SIDSP傳感器能夠確保較高的測量精度和可重復(fù)性，并補償測量環(huán)境和測量對象的溫度的影響。傳感器配備有使它們高度耐磨硬質(zhì)合金金屬提示。

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