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fmp20膜厚儀+fd10探頭

FMP10/40

手持式涂層厚度測量裝置，從FMP10到FMP40范圍提供的結(jié)果和各種各樣的測量技術使他們高度靈活。與磁電感測量模型是可用的(DELTASCOPE®),渦流測量或兩個技術結(jié)合(DUALSCOPE®)。通過將不同的探針連接到這些儀器上，您可以快速地為幾乎所有的測量任務創(chuàng)建正確的解決方案。

Dualscope®FMP20曲率補償探頭測量陽極氧化膜部分

主要特點:
可變探針為各種測量任務提供了靈活性
高效和結(jié)構(gòu)化的測量，有足夠的內(nèi)存用于幾千個應用程序，以及許多評估和顯示功能
按標準計量，海事組織PSPC模式，
SSPC-PA2 QUALANOD或克利
應用:
涂料在鋼鐵DELTASCOPE®
同位素探傷儀®鋁和其他有色金屬涂層
DUALSCOPE®和襯底自動識別兩個測量技術的組合(磁感應和渦流);DUALSCOPE可以測量鐵/鋼或非鐵磁金屬和非導電基板上的各種涂層
非鐵金屬、鐵或鋼的涂層在千分尺范圍內(nèi)
由有色金屬或鋼的保護涂層制成的厚涂層

FMP10-20新一代的便攜式儀器和種類繁多的插入式探頭提供了的測量。除了一個用戶創(chuàng)建的校準應用，這些易于操作和堅固的儀器適用于幾乎任何涂層厚度測量要求。FMP10-20的要求范圍從廣泛的彩色標本到其他非常具體和復雜的測量挑戰(zhàn)。在FMP10-20系列的測量中也確定并顯示了常見的特征統(tǒng)計值。
根據(jù)您的測量應用程序中,您可以根據(jù)磁感應的涂層厚度測量方法(Deltascope®FMP10),渦流方法(同位素探傷儀®FMP10)或根據(jù)這兩種方法結(jié)合在一個儀器(Dualscope®FMP20)。

探頭需要另外選配！